Dino-Lite EDGE PLUS, 1,3 Megapixel, geringe Vergrößerung 10~50x für Makroanwendungen, IR-LEDs 940nm, Messfunktion, Metall

961,93 

Artikelnummer: 43-AM4117MTW-FJ Kategorien: , ,
 

Beschreibung

Das AM4117MTW-FJ ist mit 940-nm-LEDs ausgestattet und eignet sich für die Untersuchung von Oberflächen, die unter Infrarotlicht deutliche optische Eigenschaften aufweisen. Dieses Mikroskop ermöglicht die Bildaufnahme auf Makroebene mit Zoomfunktion, was eine detaillierte Beobachtung eines breiten Spektrums an Objekten ermöglicht.

Arbeitsabstand/Sichtfeld/Tiefenschärfe

T-Zone

MWDFOV (x)FOV (y)DOF
5021863
40421076
3071131011
20127201526
15183262047

W-Zone

MWDFOV (x)FOV (y)DOF
302013107
2033201514
1548262024
1077392954
51667859266

Spezifikation

Beleuchtung
Licht/LED-Typ940 nm LED
Optik
Vergrößerung10x bis 50x
Sensor
Auflösung1,3 Megapixel (1280 x 960)
Maximale Bildrate30 fps bei 1,3 MP, MJPEG 30 fps bei VGA, MJPEG
Kompatibilität
SchnittstelleUSB 2.0
BetriebssystemWindows 10/11 macOS oder neuer
Gehäuse
VergrößerungssperreJa
Maße104 mm (H) x 32 mm (D)
GewichtCa 89 g
KabellängeCa 1,8 m
Funktionen
MessungJa
KalibrierungJa
Microtouch-SensorJa
Information
LieferumfangMikroskop, Tragetasche, Kalibriermaß, Bedienungsanleitung, N3C-O- offenes Deckel, N3C-C- geschlossenes Deckel, N3C-D- Diffusordeckel, N3C-E- Verlängerungsdeckel, N3C-L- langes Deckel, N3C-S- Seitenlichtdeckel
Garantieinformationen2 Jahre europäische Garantie
ZulassungenCE, FCC, ROHS
Preisspanne

Zusätzliche Informationen

Anschluss

Beleuchtung

Fokusabstand

Metallgehäuse

Produkttyp

Vergrößerung

,

Auflösung

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