eFLC, AMR, EDOF, EDR, DPQ

eFLC- och EDOF-teknik möjliggör optisk mätning med utökat skärpedjup och dynamiskt fokusomfång, vilket lämpar sig för kvalitetskontroll av komplexa geometrier och ytor i mätrum och verkstadsmiljöer. AMR- och EDR-funktioner förbättrar signalkvalitet och mätnoggrannhet även vid vibrationer, störningar och varierande belysningsförhållanden.

DPQ-baserade mätsystem stöder spårbar kalibrering enligt etablerade kompatibilitetsstandarder och är anpassade för processövervakning, dimensionskontroll och kvalitetssäkring i krävande industriella applikationer.